Interférence constructive d’une couche mince

Saisissez la longueur d’onde, l’indice de réfraction du film, l’ordre d’interférence et indiquez si un seul rayon réfléchi subit une inversion de phase ou si les deux réflexions ont le même comportement de phase. Le résultat suppose une incidence normale, conserve l’unité de longueur et fournit la formule ainsi que la différence de marche optique.

Choisissez la condition de phase avant d’appliquer la formule

L’interférence constructive de la lumière réfléchie dépend du trajet supplémentaire dans la couche, mais aussi des phases introduites aux interfaces. Une réflexion vers un milieu d’indice plus élevé ajoute un déphasage d’un demi-cycle, tandis qu’une réflexion vers un indice plus faible n’en ajoute pas. Comparez les deux réflexions qui quittent la couche vers l’observateur. Si une seule reçoit ce déphasage, sélectionnez one_phase_reversal. Si aucune ne le reçoit, ou si les deux le reçoivent, sélectionnez zero_or_two_phase_reversals, car leur différence de phase due aux réflexions est nulle. Ce choix décale d’un quart d’onde les épaisseurs optiques admissibles. Le calculateur suppose que vous avez déjà examiné l’ordre des milieux pour déterminer cette condition ; il ne la déduit pas des indices du substrat et du milieu ambiant. À incidence normale, une inversion donne une réflexion constructive lorsque 2nt vaut (m + 1/2) fois la longueur d’onde. Avec zéro ou deux inversions, 2nt vaut m fois la longueur d’onde.

Saisissez des grandeurs cohérentes et interprétez l’ordre

Indiquez une longueur d’onde dans le vide et un indice de film positifs et finis. Le calculateur n’impose aucune unité : une longueur d’onde saisie en nanomètres produit une épaisseur en nanomètres, tandis qu’une valeur en mètres produit des mètres. Ne mélangez pas les unités et n’attendez pas de conversion implicite. L’ordre m choisit un membre de la famille périodique des épaisseurs constructives. Avec exactement une inversion de phase, m = 0 fournit la plus petite solution positive, λ divisé par 4n ; chaque incrément de m ajoute λ divisé par 2n. Avec zéro ou deux inversions, m = 1 fournit la plus petite couche positive, λ divisé par 2n. Bien que m = 0 donne mathématiquement une épaisseur nulle dans ce cas, une couche sans épaisseur n’est pas un film physique et l’entrée est donc refusée. Le champ optical_path_difference renvoie 2nt pour faciliter le contrôle : il doit valoir (m + 1/2)λ avec une inversion ou mλ lorsque les phases de réflexion sont équivalentes.

Utilisez le résultat dans les limites du modèle

Ce calcul convient aux premières estimations de revêtements, aux exercices, aux couches de capteurs et aux démonstrations visant à renforcer une longueur d’onde en réflexion. Il s’agit d’un modèle idéal à deux rayons, et non d’un simulateur complet de revêtement. Il suppose une couche uniforme sans pertes, un indice réel, une lumière monochromatique, des rayons cohérents et une incidence normale. À incidence oblique, le terme de propagation dépend de l’angle dans la couche et la polarisation peut modifier la phase et l’amplitude ; cette épaisseur ne constitue donc pas un projet final. Les matériaux réels présentent aussi dispersion, absorption, rugosité et tolérances de fabrication. Les empilements multicouches exigent une méthode par matrices de transfert, car chaque interface ajoute des réflexions. Utilisez ce résultat comme épaisseur nominale du modèle, puis validez votre conception avec la dispersion réelle, la plage angulaire, la bande passante et l’empilement complet. Le calcul dans le navigateur est gratuit ; une requête API réussie coûte $0.002. Les entrées incorrectes sont refusées.